可测试性设计
kě cè shì xìng shè jì · ㄎㄜˇ ㄘㄜˋ ㄕˋ ㄒㄧㄥˋ ㄕㄜˋ ㄐㄧˋ
- 字母
- ke ce shi xing she ji
- 首字母
- kcsxsj
- 注音符号
- ㄎㄜ ㄘㄜ ㄕ ㄒㄧㄥ ㄕㄜ ㄐㄧ
- 注音首符
- ㄎㄘㄕㄒㄕㄐ
可测试性设计（英语：Design for Testability, DFT）是一种集成电路设计技术，它将一些特殊结构在设计阶段植入电路，以便设计完成后进行测试。
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